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超声波探伤时影响缺陷定位的主要因素

发布时间:2021-08-11   点击次数:17次
  超声波探伤时影响缺陷定位的主要因素
  1.超声波探伤仪的影响:水平线性、水平刻度精度。
  2.超声波探头:主声束偏向,探头波束双峰,斜探头斜楔磨损使K值变化,探头晶片发射、接收声波指向性。
  3.被测工件影响:
  a.表面粗糙:表面凹凸不平引起进入工件声束分叉;
  b.工件材质:材质晶粒引起林状反射,即材料噪声,试块与工件材质差异,引起声速变化,试块与工件应力差异,引起声速变化使K值变。压力应力声速增加,拉应力声速减小每1kg/mm2引起0.01%;
  c.工件表面形状:曲面工件探伤时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面,使入射点改变,从而引起K值变化;
  d.工件边界:靠工件边界探测时,由于侧壁干扰,使主声束偏向,改变K值;
  e.工件温度:工件温度升高K值增大,工件温度下降K值变小;
  f.工件中缺陷:缺陷反射指向性引起不在主声束入射缺陷时出现高反射,引起误判;
  4.操作人员影响
  a.调试超声波探伤仪扫描线比例不准。
  b.测量超声波探头入射值,K值不准。
  c.定位方法不当:曲面工件未修正等。
  超声探伤中使用的试块分为标准试块和对比试块两大类。
  1.标准试块具有规定的材质、表面状态、几何形状与尺寸,可用以评定和校准超声检测设备
  对比试块是以特定方法检测特定试件时所用的试块。
  2.探伤中使用试块是为了保证检测结果的准确性与可重复性、可比性。
  3.超声测量中使用的试块是针对待测工件而特别制作的相同材质、热处理工艺的试块。它的使用是为了校准仪器的声速及零点,以便得到比较准确的测量厚度。

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