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美国超声波测厚仪 腐蚀测厚仪

更新时间:2021-03-08

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简要描述:
美国37DL PLUS超声波测厚仪 腐蚀测厚仪

37DL PLUS美国超声波测厚仪 腐蚀测厚仪

  美国泛美Panametrics-NDT 37DL PLUS腐蚀超声波测厚仪主要适用于测量有内部腐蚀或锈蚀的管材、箱体和其它金属构件如船舶,锅炉,管道等;腐蚀超声测厚仪37DL PLUS具有许多创新特性,即便在外表有涂层或镀层的情况下,亦可轻易完成金属实际厚度的测厚。新增透过涂层技术,利用一次背反射回波,测量和显示金属基底厚度和涂层厚度。新增氧化皮/沉积物测量功能(选择项),测量和显示锅炉管道内壁钢基底厚度和氧化皮沉积物的厚度,从而有助于管道寿命的预测。37DL PLUS腐蚀超声波测厚仪精确的高温厚度测量可以利用新增温度补偿功能,随温度变化调节材料的声速。37DL PLUS腐蚀超声测厚仪新增平均值/Z小值模式,保存几个相继测量值的平均值或Z小值,Panametrics-NDT™ 37DL PLUS是一款先进的超声测厚仪,37DL PLUS腐蚀测厚仪它结合了强大的测量能力和先进的数据采集和输出能力,适用于测量有内部腐蚀或锈蚀的管材、箱体和其它金属构件。37DL PLUS腐蚀超声测厚仪功能特点:改善给电子学领域,新型37DL PLUS为很多标准测量方式带来创新。新的A扫描显示,更好的对比度和可见性,使显示更加清晰。存储在B扫描中的每个厚度读数可以在WIN37DL PLUS界面程序和测量仪上浏览。用户可选择查看栅格结点标记Z小/Z大,报警式或A扫描。基于文件的字母数字的存储器,可以使用更长的文件名Z多32字符IDZ多20字符。网格文件可以通过增加行、列或改变增量方向进行扩展。
新型探头
37DL PLUS
可以使用不同排列方式的双晶片和单晶片探头。探头自动识别功能,可对按线型排列的每个D790系列双晶片探头进行识别,从而得到Z佳测量结果。37DL PLUS还可使用电磁超声探头E110-SB EMAT,透过氧化皮对钢表面无耦合剂的厚度测量。M2017M2091探头Z适合于对锅炉管道内壁氧化沉积物的测量。37DL PLUSPanametrics-NDT的频率范围从230兆赫的Microscan探头系列兼容,包括:单晶片接触式、延迟线式和水浸式探头。此外,该测量仪亦可用于非腐蚀材料诸如塑料、玻璃纤维、复合材料、橡胶、铸件、橡胶和玻璃的测量应用。应用自动调用功能,可从其存储器中自动调用16个缺省的和10Microscan探头设置。
透过涂层技术
这个创新技术,利用单一的背反射回波测量金属的实际厚度。37DL PLUS可以显示金属和涂层厚度,其中每一种都相应调整材料声速。可将测厚仪设置为仅显示金属的实际厚度。测量无需去除表面的油漆或涂层。透过涂层测量使用新型D7906-SMD7908双晶片探头。
37DL PLUS
用单一的背反射回波,自动计算和显示涂层厚度(0.019英寸和金属厚度(0.284英寸
温度补偿
材料温度的变化,引起声波在其中传播速度的变化,进而影响测量的精度。温度补偿功能允许用户输入校准块的温度值,并且手动或自动输入测量点当前温度。37DL PLUS将显示在校正温度下的厚度值,并将其存入内置数据存储器。
校准温度与材料本身温度差值为932°F0.376英寸的厚度读数,将可补偿材料声速的变化。
DB
栅格视图
改善的栅格视图特点允许用户对应每个栅格点选择查看Z小/Z大值、报警或者A扫描的标记。这允许用户通过文件迅速扫描和找出Z小/Z大值、报警或者A扫描的位置。
标记清晰地表明(H)高值报警和(L)低值报警的厚度测量值。
氧化皮/沉积物测量(选择项)
这一新增可选项,使用先进的算法测量锅炉管道内壁氧化皮或沉积物的厚度。测量仪同时显示锅炉管道的金属基底厚度和氧化皮的厚度,从而有助于管道寿命的预测。此项应用,我们推荐使用M2017M2091探头。美国泛美37DL PLUS超声波测厚仪产品特性:
新增透过涂层技术,利用一次背反射回波,测量和显示涂层厚度和金属基底厚度。
新增温度补偿功能,补偿了材料随温度变化而引起的声速变化。
新增氧化皮/沉积物测量功能(选择项),测量和显示钢基底厚度和氧化皮沉积物的厚度。
新增平均值/Z小值模式,保存几个相继测量值的平均值或Z小值。
新的A扫描显示,更好的对比度和可见性,显示更加清晰。
新增的使用不同排列方式的单晶片和双晶片接触式、延迟式或水浸式探头。
使用EMAT探头,透过氧化皮对钢表面无耦合剂的厚度测量。
基于文件的字母数字的存储器,可以使用更长的文件名Z多32字符IDZ多20字符
改善:存储在B扫描中的每个厚度读数可以在WIN37DL PLUS界面程序和测量仪上浏览。
改善:选择查看栅格结点标记Z小/Z大,报警方式或A扫描
网格文件可以通过增加行、列或改变增量方向进行扩展。37DL PLUS腐蚀测厚仪技术指标

双晶片测量方式:从激励脉冲到*个回波之间的精确延时

透过涂层测量:利用一次背反射回波(使用D7906-SMD7908探头),测量涂层厚度和真实金属厚度。

透过漆层回波对回波:消除漆层或涂层,在两个连续背反射回波之间的时间间隔。

单晶片测量模式:
模式1:测量激励脉冲和*个背反射回波之间的时间间隔。
模式2:测量在激励脉冲之后的*个界面回波与*个背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水浸式探头。
模式3:测量在激励脉冲之后,位于*个界面回波之后的相邻背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水

浸式探头
氧化皮/沉积物测量功能(选择项):测量金属基底厚度和管子内壁氧化皮沉积物的厚度。

氧化皮沉积物的厚度范围:
M2017: 0.010 - 0.050
英寸(0.25 - 1.25毫米
M2091: 0.006 - 0.050
英寸(0.15 - 1.25毫米

厚度范围:: 0.003 - 25.000英寸(0.080 - 635.00毫米),取决于材料、探头、表面条件、温度和设置选择。

材料速度速率范围: 0.020 - 0.551英寸/微秒(0.508 - 13.998毫米/微秒

显示精度,任选:

:

0.01英寸

0.1毫米

标准:

0.001英寸

0.01毫米

 

电池:6伏镍镉可充电电池组,或现场可替换的碱性“AA”电池。
电池寿命:额定25小时(正常测量模式,背光关闭)
快速充电器:2小时快速充电器,使用通用电压
探头频率范围:2-30兆赫(-3 dB)
工作温度:-10°C+50°C (+14°122°F)
键盘:密封、触摸式、声音反馈的彩色键盘。
机箱:带有密封连接器的防水,接口密封的聚碳酸脂材料箱子。符合IP-65标准。
液晶显示器:带有背光照明、对比度面板可调。显示区域 4.0 x 3.39英寸(102 x 86毫米
危险区域操作:根据MIL-STD-810E规定,方法511.3,步骤1
整流:射频波、正半波、负半波,以及全波整流。
显示范围和延迟控制
公制、英制单位
尺寸:9.375 x 5.45 x 1.5英寸(238 x 138 x 38毫米
重量:2.1(0.95公斤
内置数据存储器
通过RS-232串口,37DL PLUS可识别、存储、调用、清除以及传输厚度读数、波形图像和仪器设置信息。波特率、字节长度、停止位以及奇偶位可以在面板上调节。
Z大存储量:60,000厚度读数或4,500个带厚度的波形。
文件名、ID号和注释:32位字符文件名,20位字符数字字母位置码,每个位置码代表4种注释。
文件结构:7个标准文件结构或用户针对应用定义的文件结构。
报告:在仪器上带有概要统计的报告、Z小/Z大值及其位置,文本比较以及报警报告。屏幕上显示当前读数和先前读数的比较。
37DL PLUS
超声波测厚仪标准配置
带有波形的37DL PLUS型数字超声厚度仪,50-60 Hz交流或电池供电
• D790-SM
探头,5.0兆赫, 0.434英寸(11毫米端部直径,温度范围-5°932°F
充电器/AC (100115230 VAC)
内置数据存储器
• WIN37DL PLUS
界面程序
试块,耦合剂
• RS-232 I
电缆
带脖套的保护袋
操作手册
两年保修单
测量特点:透过涂层、透过漆层回波对回波、EMAT兼容、Z小/Z大值模式、双报警模式、差值模式、B扫描,应用自动调用、温度补偿、平均值/Z小转换模式。

37DL PLUS
腐蚀测厚仪选购件
37DLP/EW,
第三年保修单
WIN37DL PLUS/CCG,(Color-coded Grid
软件
36CA/EC-115,
外置快速充电器,115 VAC
37DLP/SU/OXIDE,
测量锅炉管道和内部氧化物的软选择件
1/2XA/E110,EMAT
探头适配过滤器

 

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